Estudia el comportamiento estructural y termodinámico de los semiconductores orgánicos en películas delgadas por medio de tecnología basada en calorimetría de barrido rápido (FSC), difracción de rayos X de incidencia rasante (GIWAXS y GISAXS) y microscopía/espectroscopía óptica polarizada (POM/S). Estos experimentos permiten sondear fases cristalinas y vítreas.
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